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TMS 透過率光譜分析儀能快速準確地測量各類平⾯、球⾯、⾮球⾯等光學元件的透過率，可⽤于實時顯⽰單、多點波⻓透過率數(shù)據(jù)及指定波段平均透過率數(shù)據(jù)。適⽤于⼿機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡膠合鏡、平⾏平板、太陽膜、濾光⽚等平⾯、球⾯⾮球⾯光學元件及組合鏡頭等的檢測。

儀器特點

1. 球⾯、⾮球⾯、塑料制品散透射等測量；